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FEI FIB雙束掃描電子顯微鏡Helios 5 DualBeam
用于 TEM 和 STEM 成像或原子探針斷層掃描的樣品制備。產(chǎn)品可實現(xiàn)先進的自動化操作，簡單易用，并且能夠進行高質量的亞表面 3D 表征。

型號：Helios 5 DualBeam
發(fā)布時間：2022-12-04

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